Η ηλεκτρική ισχύς που καταναλώνεται, και η επακόλουθη έκλυση θερμότητας, αυξάνονται παρά τη μείωση του μεγέθους των τρανζίστορ. Μεγάλα ποσοστά ενέργειας μειώνουν την αξιοπιστία των τσιπ και το προσδόκιμο ζωής τους, και δημιουργούν την ανάγκη συχνότερης φόρτισης στις φορητές συσκευές.
Οι σύγχρονοι επεξεργαστές αντιμετωπίζουν προβλήματα αξιοπιστίας κατά τη διάρκεια της ζωής τους εξαιτίας των σφαλμάτων που προέρχονται από την κοσμική ακτινοβολία και από τα ηλεκτρικά φορτισμένα σωματίδια, της γήρανσης και φθοράς των κυκλωμάτων από την πάροδο του χρόνου και των κατασκευαστικών ατελειών.
H συγκεκριμένη έρευνα εργαστηρίου Αρχιτεκτονικής Υπολογιστών έχει διεξαχθεί στα πλαίσια του ερευνητικού έργου FP7 Clereco με εταίρο το Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών.
Ερευνητές: Δρ. Γ. Παπαδημητρίου, Δρ. Α. Χατζηδημητρίου, Καθ. Δ. Γκιζόπουλος